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    1. 產品展示

      X射線衍射儀

      簡要描述:DX系列X射線衍射儀設計精密,硬件、軟件功能齊全,能靈活地適用于物質微觀結構的各種測試、分析和研究。根據實際任務的需要,可以安裝各種特殊功能的附件及相應控制和計算軟件,組成具有特殊功能的衍射儀系統。

      • 產品型號:DX系列
      • 廠商性質:生產廠家
      • 更新時間:2024-10-07
      • 訪  問  量:3762
      詳情介紹

      DX系列X射線衍射儀設計精密,硬件、軟件功能齊全,能靈活地適用于物質微觀結構的各種測試、分析和研究。根據實際任務的需要,可以安裝各種特殊功能的附件及相應控制和計算軟件,組成具有特殊功能的衍射儀系統。
       

        ●硬件系統和軟件系統的*結合,滿足不同應用領域學者、科研者的需要;

        ●高精度的衍射角度測量系統,獲取更準確的測量結果;

        ●高穩定性的X射線發生器控制系統,得到更穩定的重復測量精度;

        ●程序化操作、一體化結構設計,操作簡便、儀器外型更美觀。

       
        技術參數    
       
       
        可對單晶、多晶和非晶樣品進行結構分析,如物相定性和定量分析(RIR定量、內部標準法、外部標準法、標準添加法),衍射譜圖指標化及點陣參數測定,晶粒尺寸及點陣畸變測定,衍射圖譜擬合修正晶體結構(WPF),殘余應力測定,織構分析(ODF表示立體極圖),結晶度、薄膜測定。
       
        衍射數據處理軟件    
        對衍射數據進行常規處理:自動尋峰、手動尋峰、積分強度、Kα1、α2剝離、背景扣除、平滑、峰形放大、多重繪圖、3D繪圖、已知晶體理論結構,模擬出XRD衍射譜圖等;
       

        擬合、多重峰分離

       
       
       
        通過 Pseudo-Voigt函數或是利用Pearson-VII函數對重疊峰擬合分解,確定單一衍射峰的參數,同時計算結晶度、晶粒尺寸、二類應力等。
       
       

        定性、定量分析:

       
       
       
        定性、定量分析確定樣品物相組成后,使用Rietveld方法,計算出各種物相含量的百分比(無標標定量分析)。
       
       

        Rietveld晶體結構精修(WPF)

       
       
       
        全譜擬合定性分析、精確定量分析峰形分析研究晶體雜質、位錯、晶界、點陣畸變等微觀結構。
       
       

        繪圖、打印輸出

       
       
       
        數據處理軟件與Windows相連接,對將要輸出的圖譜可以使用標注、放大、縮小等功能進行版面設計,也可以使用Windows操作進行剪切、粘貼。
       
       
        集成測量附件(選件)    
       
        廣角測角儀一般是針對粉末樣品、塊狀樣品定性和定量分析而設計的。但隨著材料研究的深入,越來越多的板材、塊狀材料及基體上的膜也要求用X射線衍射分析,集成測量附件就是為了滿足這些需要而設計的。在廣角測角儀上安裝集成測量附件可以進行織構、應力、薄膜、定量分析等測試,每一種測試功能都有相應的計算軟件。
       
       
       

        應用領域:

        ●碾軋板(鋁板、鐵板、銅板等)織構測量及評價(極圖、反極圖、ODF計算)
        ●
      大分子化合物取向測量
        ●
      陶瓷樣品取向測量
        ●
      薄膜樣品晶體優先方位的評價
        ●
      金屬材料、陶瓷材料的殘余應力測量(切削、敲擊等加工產生 的應力)
        ●
      金屬材料上的氧化膜、氮化膜等殘余應力測量,進行耐磨性、 切削性評價
        ●
      多層膜材料的殘余應力測量
        ●
      金屬、非金屬基體上的多層膜、氧化膜、氮化膜分析
        ●
      金屬、非金屬表面的電鍍材料分析
        ●
      有擇優取向的粉末、大分子材料的定性、定量分析

        特點:

        ●極圖測試裝置(有反射法、透射法、γ擺動)
        ●應力測量附件(有側傾法、并傾法)
        ●薄膜測量、Phi 掃描(樣品表面旋轉)
        ●zui大可測量樣品尺寸:φ35X8mm
        ●樣品前后自動調整zui小距為:5μm
        ●附件有定位結構與廣角測角儀安裝、柝卸十分方便
        ●DX系統軟件自動控制各個方向動作,可以更好的進行粉末樣品測試

       

        技術參數:

       
       
       

        α軸轉動范圍:-45°~90° zui小轉動步距0.001°/步

        β軸轉動范圍:360°     zui小轉動步距0.005°/步

        γ軸轉動范圍:±8mm     水平45°方向擺動

        Z軸轉動范圍:10mm      zui小移動步距0.005mm/步

        集成測量附件配置有高分辯率平行光光學系統,克服了聚集光學系統的缺點。平行光光學系統可以解決測量角度誤差、衍射峰不對稱、分辯率低等問題。尤其適用于材料殘余應力、有機材料、薄膜、鍍膜等樣品分析。

       
       
       
        織構使多晶材料呈現各向異性,利用織構改善和提高材料的性能、充分發揮材料性能潛力是材料科學研究重要的工作之一。雖然檢測材料織構的方法很多,但是zui廣泛應用的還是X射線衍射技術。

      集成測量附件應用于退火鋁的織構測試。分別測量出111、200、220三張極圖,使用計算軟件繪制的反極圖和立體極圖(ODF圖)
       
       
        集成測量附件應用于鋼的殘余應力測試,Psi角膜式,-45°~90°范圍內取點對稱測量2θ角峰位,計算正向、反向測試應力值,取平均值為應力測量結果。

       

       
        纖維樣品測量裝置(選件)    
       
        纖維樣品測量附件安裝在廣角測角儀上。安裝纖維樣品或將纖維樣品安裝后拉伸,用透射法或是反射法測試晶體結構或是晶體結構的變化,適用于木材、纖維等樣品的纖維組織測量。
       
       
        樣品旋轉(薄膜測量)附件(選件)  
       
        使用聚焦光學系統一般無法測量薄膜樣品,但采用平行光光學系統和樣品旋轉附件、將θ軸固定、低角度入射、使用平晶單色器反射、保持樣品內旋轉的方法,除掉來自基體的強X射線,可以高效率地探測到薄膜衍射線。
       
       
       
        衍射儀通用附件(選件)  
       
       
           
      單色器:
      提高衍射峰與背景比例及對微相分析能力
        DCX-6換樣器:
      編程控制,一次安裝多個樣品,順序進行測試,保存測量結果,提高儀器的運行效率。
       
           
      陶瓷體X射線管
      功率:2kW
      焦點:1X10mm
      標準結構、適用國內外X射線儀
        制樣器:
      用于粉體衍射樣品制作
       
        Dwlc-2循環水冷卻裝置  
       

        該裝置主要用于顯微鏡、電子探針、能譜儀、衍射儀、熒光光譜儀等實驗室設備所需要的恒溫水源。它運用壓縮機制冷原理,采用封閉內循環水循環,自動控制制冷系統工作,對儀器需要冷卻部件進行熱交換,使儀器在*溫度下穩定工作。

      技術參數

      • 使用蒸餾水,對X射線管或需要冷卻的部件進行冷卻;
      • 分體式結構(冷凝器安裝在室外),減少室內噪音;
      • 任意設定循環水工作溫度(0-50°C);
      • 溫度控制精度:設定溫度±1°C;
      • 水流量:16L/min、24L/min;
      • 出水口壓力:2.5kg/平方厘米、3.5kg/平方厘米、4.0kg/平方厘米;
      • 儲水量:大于70L或按要求提供;
      • 工作電壓:220V或380V;
      • 工作方式:本機開、關或遙控方式選擇;
      • 有水流量檢測、制冷劑壓力檢測及各種保護。
       
       
       
       

      注:

      實驗室面積標注的尺寸僅供參考

       ● 單相電源220V×30A 2組 

       ● 接地線電阻不得大于4Ω

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