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    JG-TP光譜隨偏儀
    
  

        

        
  光譜隨偏儀
    
        光譜橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構的光學測量設備。由于與樣品非接觸，對樣品沒有破壞且不需要真空，使得橢偏儀成為一種吸引力的測量設備。
        
    
        更新時間：2024-10-08
        廠商性質：生產廠家
        
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